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RODRIGUES JÚNIOR, G.; MARCAL, L. A. B.; RIBEIRO, G. A.; RAPPL, P. H. O.; ABRAMOF, E.; SCIAMMARELLA, P. V.; GUIMARÃES, L. M.; PEREZ, C. A.; MALACHIAS, A. Direct observation of large strain through van der Waals gaps on epitaxial Bi2Te3/graphite: Pseudomorphic relaxation and the role of Bi-2 layers on the BixTey topological insulator series. Physical Review Materials, v. 4, n. 2, p. e023602, Feb. 2020. DOI: <10.1103/PhysRevMaterials.4.023602>. Disponível em: <http://doi.org/10.1103/PhysRevMaterials.4.023602>.
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... como proposto por Rodrigues Júnior et al. (2020).
... pode ser encontrada na literatura (RODRIGUES JÚNIOR et al., 2020).